PVA TePla 超聲掃描顯微鏡SAM Premium系列結合了聲學顯微鏡和光學顯微鏡。它使超聲掃描平臺與倒置光學顯微鏡或反射式光學顯微鏡相結合。SAM Premium系列所使用的技術是以融合了生產和研究技術的核心平臺為基礎。SAM Premium系列旗下各個系統均具有高產量、高靈活性和寬廣的掃描范圍等特性。此外，各系統還可以根據客戶的要求進行擴展，并用于多樣化的應用。

PVA TePla SAM 全自動系列的全自動超聲波掃描顯微鏡能夠無損檢測空洞、空隙、氣泡、夾雜物和分層，是圓檢測、焊接界面檢查、MEMS檢測、以及各類電子封裝檢測的理想選擇。該系列配有自動缺陷檢測軟件包，可對各種缺陷類型進行全自動化評估，檢測結果可以以klarf文件和VEGA MAP的形式發布，同時支持鏈接GEM/SECS。根據所需分析樣品，可以選擇不同掃描儀配置，如：4×1、4×2或4×4。

PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡使用簡單，操作方便，是一款用于過程控制和質量保證，以及研究應用的無損檢測設備。SAM系列旗下各型號均統一由一個符合行業標準的組件平臺衍生而來，在此基礎上，再融入了先進的生產和制造技術。

KOSAKA LAB ET 200A微型輪廓儀（光學檢測）是株式會社小坂研究所的高精度微細形狀測定機，基于Windows系統，采用金剛石探針接觸測量，適用于多種材料表面形貌分析，如臺階、粗糙度等，配備多樣探針，操作直觀便捷，廣泛應用于半導體、光電等領域。