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            全自動超聲波掃描顯微鏡
            
            
            簡要描述：PVA TePla SAM 全自動系列的全自動超聲波掃描顯微鏡能夠無損檢測空洞、空隙、氣泡、夾雜物和分層，是圓檢測、焊接界面檢查、MEMS檢測、以及各類電子封裝檢測的理想選擇。該系列配有自動缺陷檢測軟件包，可對各種缺陷類型進行全自動化評估，檢測結果可以以klarf文件和VEGA MAP的形式發布，同時支持鏈接GEM/SECS。根據所需分析樣品，可以選擇不同掃描儀配置，如：4×1、4×2或4×4。
            
            
              
    
            • 產品型號：SAM全自動
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            • 廠商性質：經銷商
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            • 更新時間：2024-08-13
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            • 訪  問  量： 425
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            詳細介紹
            
            
            
            	
            全自動超聲波掃描顯微鏡SAM Autotray 系列:SAM Auto Tray是專門為電子器件、電路板、IGBT和其他復雜部件的生產控制而開發的產品系列。該系統符合10級潔凈室標準，主要應用包括驗證缺陷，如：縫隙、氣泡、孔洞、夾雜物、脫層區域、焊接或銀燒結界面的厚度變化等，支持同時檢查多個界面。



            全自動超聲波掃描顯微鏡SAM Autowafer 系列:SAM 300 AutoWafer系列是專門為內聯生產控制而開發的產品系列，符合100/1000級無塵室標準，該系統專為檢測晶圓界面、晶圓鍵合、 MEMS 產品、或者混合粘合應用而設計，可用于檢測空洞、夾雜物或分層或微空隙。多傳感器配置可使得晶圓檢測通過率高。



            全自動超聲波掃描顯微鏡SAM 大視場掃描系統:SAM大視場系列是專門為分析DCB’s或電源模塊而開發的產品系列，可支持檢測掃描范圍為300µm x 300µm到1300mm x 1300mm。多至8個傳感器可實現超高檢測通過率。該系統包括自動缺陷審查軟件、GEM/SECS通訊，以及MES通訊。激光打標站和分類輸出端口可供選擇。





            
            
            
            
            
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