超聲波掃描顯微鏡

1.產品概述：

PVA TePla SAM系列的超聲波掃描顯微鏡使用簡單，操作方便，是一款用于過程控制和質量保證，以及研究應用的無損檢測設備。SAM系列旗下各型號均統一由一個符合行業標準的組件平臺衍生而來，在此基礎上，再融入了先進的生產和制造技術。

2.產品優勢：

SAM系列旗下各型號均統一由一個符合行業標準的組件平臺衍生而來，在此基礎上，再融入了先進的生產和制造技術。憑借我司精密制造的高頻和換能器技術，我們的超聲波掃描顯微鏡能夠在高達400MHz的超聲頻率范圍內進行詳細的聲學分析。這些設備可以廣泛應用于材料科學、生物醫學、電子工業等域，幫助用戶實現快速且準確的無損檢測。無論是對材料中的缺陷進行定位和分析，還是對樣品結構和表面形貌進行觀察和評估，我們的超聲波掃描顯微鏡都能提供可靠且高分辨率的成像結果。同時，我們還提供靈活多樣的配置選項，以滿足不同用戶需求和實驗要求。我們致力于為客戶提供高性能和可靠性的超聲波無損檢測解決方案，以滿足不斷發展的科學研究和工業生產的需求。

SAM系列系統是門用于質量和過程控制的無損檢測工具，借助高達400兆赫的新射頻和換能器技術實現詳細的聲學調查。簡單而強大的圖形界面確保了終用戶可以充分使用該系統性能和功能。

3.產品工藝：

X和Y方向的掃描范圍可單獨自定義，可選擇以下掃描范圍配置

250µm x 250µm到320mm x 320mm

250µm x 250µm到420mm x 420mm

模塊化設計的功能，如穿透式掃描、動態穿透式掃描、或"雙探頭 “和 “四探頭 “掃描儀配置等，大大優化了掃描成像結果。