超聲掃描顯微鏡

1.產品概述：

PVA TePla 超聲掃描顯微鏡SAM Premium系列結合了聲學顯微鏡和光學顯微鏡。它使超聲掃描平臺與倒置光學顯微鏡或反射式光學顯微鏡相結合。SAM Premium系列所使用的技術是以融合了生產和研究技術的核心平臺為基礎。SAM Premium系列旗下各個系統均具有高產量、高靈活性和寬廣的掃描范圍等特性。此外，各系統還可以根據客戶的要求進行擴展，并用于多樣化的應用。

2.產品優勢：

高頻和換能器技術：高頻和換能器技術可支持各類特定研究和工業應用，其中高頻范圍可高達400 MHz，并提供5 MHz和400 MHz之間的可選擇頻率范圍。此外，每個換能器都配備了門的自動對焦功能。其特征在于，該系統可通過特殊的音爆高頻單元升到1000MHz的聲學成像。

一直以來，PVA TePla致力于為企業客戶及科研單位提供無損檢測設備，滿足客戶要求。目，我們的SAM系列應用于工業域及多個高科技行業，如半導體行業、電子/電氣行業等等。

3.產品工藝：

X和Y方向的掃描范圍可以單獨自定義，可選擇以下掃描范圍配置:        

250µm x 250µm到320mm x 320mm

250µm x 250µm到502mm x 502mm

如HiSA（高速掃描軸）、或動態穿透式掃描等，可實現高性能掃描成像結果。HiSA（高速掃描軸）跟隨樣品弓形，具有動態聚焦功能。動態穿透式掃描可在25MHz至100MHz的頻率范圍內使用。