AL實時監控器

1. 產品概述

SENTECH AL 實時監測器是一種經過驗證的光學診斷工具，可實現單個 ALD 和 ALE 周期的超高分辨率。主要應用是在不破壞真空的情況下分析薄膜特性（生長速率、厚度、折射率以及蝕刻速率），在短時間內開發新工藝，以及實時研究 ALD 和 ALE 周期期間的反應機理。

2. 主要功能與優勢

高效的工藝開發和優化

使用單原子層沉積 （ALD） 或原子層蝕刻 （ALE） 循環可以快速輕松地開發和優化原子層工藝。SENTECH AL 實時監測器以 40 ms 的超高時間分辨率顯示吸附和解吸。節省了工藝、基材、驅體和氣體的開發時間。

保存驅體

使用 SENTECH AL 實時監控器進行優化后，ALD 處理變得更加高效。節省了驅體和處理時間。

驅體制品控制

當驅體供應耗盡時，SENTECH AL實時監測器檢測到的每個周期的生長變化會立即顯示出來。

靈活性和模塊化

創新的 SENTECH AL 實時監測器為快速高效的工藝開發和優化而設計，可使用 SENTECH PEALD 和 ALD 系統進行優化。

一個軟件即可輕松操作 SENTECH PEALD 系統、SENTECH ALE 系統和 SENTECH AL 實時監測器。

用于光學常數的大型材料庫支持新工藝的開發，并可以通過非原位表征進行擴展。

SENTECH AL 實時監控器集成到 SENTECH SIA 操作軟件中，確保操作簡單。