高低溫(濕熱) 試驗箱 產品概述： 1. 新型冷凍機的使用，實現了大范圍、高精度的溫濕度控制 2. 40 模式可編程控制器、具有多種語言選擇、試驗數據U 盤存儲 3.故障追溯功能、試驗箱發生故障之前的運行狀態會被自動記錄并保存

立式高溫試驗箱簡述：滿足各種產品、零部件及材料在高溫恒溫環境下貯存、運輸、使用時間適應性試驗要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進行自動開始結束設定，適合于生產線熱處理干燥處理。程序控制可進行10個模式，每個模式20步的程序設定。滿足有溫度上升、下降斜率設定的溫度特性試驗。

工業顯微鏡簡介： 1. 支持通過光學顯微鏡或圖像測量儀（如Nikon NEXIV），對直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半導體晶圓的創新設計和材料進行檢測。 2. 半導體晶圓裝載機系列，能夠將直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的晶圓轉移到厚度為100微米（工廠制造選項）的尼康Eclipse L200N和LV150N顯微鏡或NEXIV VMZ-S視頻測量儀器上。

超景深顯微鏡概述：本套系統主要用于材料表面形貌的觀察；平面或三維測量?？刹捎?D觀測模式，對被測物形狀，粗糙度，表面積等進行測量，可以做高度，寬度，橫截面，角度，R值，表面積，體積，線粗糙度，面粗糙度等的測量分析。同時可以做材料斷口、金相的觀測,陶瓷，微流道，微加工，現代加工制造,MEMS研究，微納制造等。

高速高分辨顯微共焦拉曼光譜儀 系統功能： 快速獲得詳細的圖像和分析，非常適合于微觀和宏觀測量，提供*進的二維和三維共聚焦成像能力。LabRAM Odyssey™具有高性能和直觀的簡易性，廣泛用于標準拉曼分析、光致發光(PL)、 針尖增強拉曼光譜 (TERS) 和其他聯用分析方法。通過簡單的AFM 升級，從微米尺度轉向納米光學世界。

智能型多功能橢偏儀? （Smart SE） 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學常數（n, k）以及薄膜結構特性（如粗糙度、光學梯度及各向異性等）。