四探針電阻率測試儀的應用：半導體材料、太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)，新材料、功能材料(碳納米管、DLC、石墨烯、Ag納米線等)、導電薄膜(金屬、離子等)，擴散層，硅相關外延材料，離子注入樣品。

冷熱沖擊試驗箱 技術參數： 1. 溫度范圍：周圍環境溫度+50 +200℃ -70~0℃ 3溫區 2. 高溫曝露到+200℃：15分鐘以內 3. 常溫曝露：5分鐘 4. 低溫曝露：-65℃15分鐘

高低溫(濕熱) 試驗箱 產品概述： 1. 新型冷凍機的使用，實現了大范圍、高精度的溫濕度控制 2. 40 模式可編程控制器、具有多種語言選擇、試驗數據U 盤存儲 3.故障追溯功能、試驗箱發生故障之前的運行狀態會被自動記錄并保存

立式高溫試驗箱簡述：滿足各種產品、零部件及材料在高溫恒溫環境下貯存、運輸、使用時間適應性試驗要求。采用定值和程序兩種控制。定值控制可進行自動開始結束設定，適合于生產線熱處理干燥處理。程序控制可進行10個模式，每個模式20步的程序設定。滿足有溫度上升、下降斜率設定的溫度特性試驗。

工業顯微鏡簡介： 1. 支持通過光學顯微鏡或圖像測量儀（如Nikon NEXIV），對直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的半導體晶圓的創新設計和材料進行檢測。 2. 半導體晶圓裝載機系列，能夠將直徑為6英寸（150mm）和8英寸（200mm）的晶圓轉移到厚度為100微米（工廠制造選項）的尼康Eclipse L200N和LV150N顯微鏡或NEXIV VMZ-S視頻測量儀器上。

超景深顯微鏡概述：本套系統主要用于材料表面形貌的觀察；平面或三維測量。可采用3D觀測模式，對被測物形狀，粗糙度，表面積等進行測量，可以做高度，寬度，橫截面，角度，R值，表面積，體積，線粗糙度，面粗糙度等的測量分析。同時可以做材料斷口、金相的觀測,陶瓷，微流道，微加工，現代加工制造,MEMS研究，微納制造等。